IM7585阻抗分析儀IM7583

HIOKI這次將發(fā)售阻抗分析儀IM7583和IM7585。 在信息化的現(xiàn)在社會中，智能手機等移動設備通過LTE、Wi-Fi、GPS等，向高頻化發(fā)展，而且該帶寬達到了數(shù)GHz。隨之，移動設備中所使用的高頻感應器和鐵氧體磁珠等電子元件也向高頻化發(fā)展。這些電子元件從按照數(shù)百MHz到1GHz的高頻來進行出廠檢查，所以對于高頻測量儀器的需求也日益增加。 這次將發(fā)售的2種機型，可以測量超過去年發(fā)售的IM7580（最高300MHz的高頻測量）進行更高的頻率測量。IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz，可以滿足高頻化的各種電子元件產品。 而且，IM7583、IM7585兩種機型通過最短0.5ms（0.0005秒）的高速測量，能夠快速的檢查大量電子元件，從而提高電子元件廠商的生產效率。

主要用途

電子元件廠商的電子元件的出貨檢查 電子儀器廠家的電子元件的入庫檢查和特性評估

產品特點

IM7583最高600MHz、IM7585最高1.3GHz的高頻測量 IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高于去年發(fā)售的IM7580的測量頻率（1MHz~300MHz）。 單一頻率測量的LCR測試儀的模式的話，可用于判斷出貨檢查的合格與否，頻率變化同時進行測量的阻抗分析儀的模式的話 ，產品開發(fā)的特性評估和其他領域中。   最快0.5ms的高速測量和高穩(wěn)定性的測量，有助于提高生產效率 最快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。這樣，對于需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來說可以大幅提高生產效率。 而且，IM7585的反復測量精度是0.07%（1GHz時的代表值），因此實現(xiàn)了穩(wěn)定測量，提高生產的成品率，從而提高生產效率。   主機尺寸小巧化，有助于降低生產成本 在電子元件廠商的生產線中，各種設備安裝在機架中組成檢查系統(tǒng)，并進行自動檢查。因此，和去年發(fā)售的IM7580相同通過將將主機大小小型化，縮小檢查系統(tǒng)的體積，并通過多臺組合能夠縮短檢查時間，并降低生產成本。   各種各樣的判斷功能，判斷合格與否 單一的頻率測量的LCR測試儀的模式的話，具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較其功能克設置上下限值，并以此為判斷標準來判斷是否合格。相對于比較器功能的按照判斷標準判斷是否合格，BIN功能則能設置最多10種判斷標準，并進行排名。 在多種頻率下測量的分析儀的模式的話，包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區(qū)間判斷、峰值判斷。區(qū)間判斷是為了確認測量值是否進入任意設置的判斷區(qū)域內的功能。峰值判斷是判斷共振點的功能。 另外，還全新搭載了任意設置多種頻率，并按照這個設置值判斷合格與否的目標判斷功能。

基本參數(shù)

基本精度 Z：0.65%rdg.θ：0.38（代表值） 測量時間 最短0.5ms（模擬測量時間） 測量范圍 100mΩ～5kΩ 測量頻率 IM7583：1MHz～600MHz　　IM7585：1MHz～1.3GHz 測量信號電平 -40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）

HIOKI（日置電機株式會社：長野県上田市、代表取締役社長：町田正信）はこのたびインピーダンスアナライザIM7583とIM7585を発売いたします。
　情報化社會が進む現(xiàn)在、スマートフォンなどのモバイル機器はLTE、Wi-Fi、GPSなどに対応することで、高周波化が進み、その帯域は數(shù)GHz（ギガヘルツ）にも達しています。これに伴い、モバイル機器に使用される高周波インダクタやフェライトビーズといった電子部品も高周波化が進んでいます。これらの電子部品は數(shù)百MHz（メガヘルツ）から1GHｚといった高い周波數(shù)で出荷検査をしているため、高周波の測定器のニーズが高まっていました。
　このたび発売する2機種は、昨年発売したIM7580（最高300MHｚの高周波測定が可能）を上回る高周波測定が可能です。IM7583の測定周波數(shù)は1MHｚ～600MHzまで、IM7585は1MHｚ～1.3GHｚまでとなっており、高周波化が進む電子部品に対応した製品となっています。
　また、IM7583、IM7585の両機種は最短0.5ms（0.0005秒）の高速測定によって大量の電子部品を速く検査することができ、電子部品メーカーは生産性を向上させることができます。

■主な用途
　電子部品メーカーにおける電子部品の出荷検査
　電子機器メーカーにおける電子部品の受け入れ検査や特性評価

■製品の特長
1.IM7583は最高600MHｚ、IM7585は最高1.3GHｚまでの高周波測定が可能に
　IM7583の測定周波數(shù)は1MHｚから600MHｚで、IM7585は1MHzから1.3GHｚです。これは、昨年発売したIM7580の測定周波數(shù)（1MHｚ～300MHｚ）を大きく上回ります。
　単一周波數(shù)で測定するLCRメータのモードでは出荷検査の良否判定、周波數(shù)を変化させながら測定するアナライザのモードでは製品開発での特性評価と様々な分野で使用することができます。
2.最短0.5msの高速測定かつ高安定の測定で生産性の向上に貢獻
　最短0.5ms（0.0005秒）の高速測定が可能です。これにより、大量の電子部品を速く検査したい電子部品メーカーにとって、生産性が大きく向上します。
　また、測定の繰り返し精度もIM7585で0.07% （1GHｚの場合の代表値）となっているので、安定した測定が可能になり、生産の歩留まりが改善され、生産性が向上します。
3.本體サイズの小型化により、生産コストの低減に貢獻
　電子部品メーカーの生産ラインにおいては、各種機器をラックに収めて検査システムを作り、自動検査を行なっています。そのため、昨年発売したIM7580と同様に本體サイズを小型にすることで、検査システムを小型にしたり、複數(shù)臺の搭載によって検査時間を短縮したりすることが可能となり、生産コストを低減することができます。
4.さまざまな判定機能による良否判定
　単一の周波數(shù)で測定するLCRメータのモードでは、電子部品の良否判定をするコンパレータ機能、電子部品を選別するBIN機能があります。コンパレータ機能は上下限値を設定し、この判定基準をもとに良否判定をします。コンパレータ機能では一つの判定基準で良否を判定するのに対して、BIN機能は最大10の判定基準を設け、ランク分けします。
　複數(shù)周波數(shù)で測定するアナライザのモードでは、電子部品の周波數(shù)特性から良否判定をすることができるエリア判定、ピーク判定があります。エリア判定は、任意で設定した判定エリアに測定値が入っているかを確認するための機能です。ピーク判定は、共振點を判定する機能です。
　さらに、複數(shù)の周波數(shù)を任意で設定し、この設定値に基づき良否判定をするスポット判定機能を新たに搭載しました。

■基本仕様
　基本確度　　Z：0.65%rdg.θ：0.38(代表値)
　測定時間　　最短0.5ms（アナログ計測時間）
　測定範囲　　100mΩ～5kΩ
　測定周波數(shù)　　IM7583：1MHz～600MHz　　IM7585：1MHz～1.3GHz
　測定信號レベル　　-40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）

■年間販売目標臺數(shù)
　100臺

■価格
　インピーダンスアナライザIM7583：1,700,000円（稅抜）
　インピーダンスアナライザIM7585：2,300,000円（稅抜）
　

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