北京中儀 提供四探針測試儀（手持式）使用方法，滿足你不同地點的使用需求。
·運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備,該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的，專用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器
·儀器采用了最新電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用
·本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試
作為國產(chǎn)的代理商，北京中儀 以其優(yōu)良的品質(zhì)和服務(wù)為您提供最優(yōu)惠的產(chǎn)品價格。
| 電阻率 | 0.01～1999.9Ω.cm |
| 方塊電阻 | 0.1～19999Ω/□ |
| 恒流源電流量程 | 100μA、1mA兩檔，兩檔電流連續(xù)可調(diào) |
| 數(shù)字電壓表量程及表示形式 | 00.00～199.99mV |
| 分辨力 | 10μV |
| 輸入阻抗 | >1000MΩ |
| 精度 | ±0.1% |
| 顯示 | 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰，極性、超量程自動顯示 |
| 間距 | 1±0.01mm |
| 針間絕緣電阻 | ≥1000MΩ |
| 機械游移率 | ≤0.3% |
| 探針 | 碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm |
| 探針壓力 | 5～16 牛頓(總力)，四探針探頭應(yīng)用參數(shù) (見探頭附帶的合格證) 模擬電阻測量相對誤差( 按JJG508-87進行) |
| 整機測量最大相對誤差 (用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試) | ≤±5% |
| 整機測量標準不確定度 | ≤5% |
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