消光法是光散射顆粒測(cè)量技術(shù)中的一種，又稱濁度法。消光法的基本原理是，當(dāng)光束穿過一含有顆粒的介質(zhì)時(shí)，由于受到顆粒的散射和吸收，使得穿過介質(zhì)后的透射光強(qiáng)度受到刺激，其衰減程度與顆粒大小和數(shù)量濃度有關(guān)，這就為顆粒測(cè)量提供了一個(gè)尺度。與散射光能顆粒的測(cè)量方法顯著不同的是，消光法測(cè)量時(shí)所接收的不是顆粒的散射光，而是非散射光，所以光強(qiáng)較強(qiáng)。光源大都采用白光而不是單色激光，此外，除顆粒粒徑外，消光法還能同時(shí)測(cè)得顆粒的濃度，與其他光散射方法相比，這是它的一個(gè)突出特點(diǎn)。

　　消光法的原理簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，對(duì)顆粒計(jì)數(shù)器設(shè)備的要求較低，測(cè)量范圍相對(duì)較寬，下限為數(shù)十個(gè)納米，上限為十微米左右，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好，測(cè)量速度快，因此該方法不僅在膠體化學(xué)，高分子化學(xué)以及分析化學(xué)等實(shí)驗(yàn)室分析中得到了廣泛應(yīng)用，還在在線測(cè)量中得到越來越多的應(yīng)用，如對(duì)高分子聚合過程的測(cè)量和監(jiān)控，內(nèi)燃機(jī)排氣中固體微粒粒徑的測(cè)量，大型火力發(fā)電廠和原子能電廠中蒸氣濕度和水滴直徑的測(cè)量，煙塵排放濃度的監(jiān)控等。

　　影響測(cè)量精度的因素

　　影響濁度法測(cè)量精度的因素主要有：折射率，光波長(zhǎng)，光強(qiáng)信號(hào)，顆粒濃度一級(jí)反演運(yùn)算算法的優(yōu)劣。

　　1、折射率

　　折射率不同時(shí)，相同大小顆粒的消光系統(tǒng)相差很大，因而必將影響到最后測(cè)量結(jié)果。物質(zhì)的折射率一般是光波長(zhǎng)的函數(shù)，在用多個(gè)波長(zhǎng)測(cè)量時(shí)，為得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，應(yīng)考慮這種變化，但這類數(shù)據(jù)很難得到。這時(shí)，可用對(duì)應(yīng)于中間波長(zhǎng)的折射率代入進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。分析表明，由此產(chǎn)生的誤差并不大。

　　2、光波長(zhǎng)

　　光波長(zhǎng)偏差對(duì)測(cè)量結(jié)果誤差影響較小，數(shù)據(jù)處理時(shí)一般允許波長(zhǎng)計(jì)算值與實(shí)際值的偏差不大于±10nm，這對(duì)大多數(shù)光學(xué)系統(tǒng)均不難達(dá)到。

　　3、光強(qiáng)信號(hào)

　　在測(cè)量入射光強(qiáng)和投射光強(qiáng)時(shí)，不可避免的產(chǎn)生一定誤差，原因主要有光源不夠穩(wěn)定、光學(xué)元件表面受到污染、外界雜散光對(duì)光敏探測(cè)元件的干擾、AD數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)精度等。消光值的偏差應(yīng)小于1%，否則，測(cè)量結(jié)果的誤差將有可能大于10%

　　4、濃度

　　濁度法的理論基礎(chǔ)是Mie散射理論，是在不相關(guān)的單散射前提條件下成立的。若顆粒濃度過高，將會(huì)造成復(fù)散射現(xiàn)象，為此在應(yīng)用消光法測(cè)量顆粒時(shí)應(yīng)控制被測(cè)顆粒的濃度或濁度，使之滿足不相干單散射的條件。一般用消光值或遮光率作為測(cè)量時(shí)濃度控制的指標(biāo)，OB值得范圍應(yīng)在0.05-0.5之間，以0.3左右為宜，過大或過小均會(huì)增大測(cè)量誤差。