美國伊利諾伊大學開發(fā)出可自修復電路
[ 2012/1/8 16:28:36 ]
美國伊利諾伊大學的工程師團隊開發(fā)出了一種自修復系統(tǒng)，可以在極短時間內自動恢復受損電路的導電性能。研究人員將直徑為10微米的微型膠囊分散在以金線構成的電路上。當電路受損時，微膠囊會破開并釋放出內含的液態(tài)金屬，這種液態(tài)金屬會填充電路中的縫隙，恢復電路導通。研究人員計劃將進一步改善這一系統(tǒng)，并探索利用微膠囊控制導電性的其他可能。研究人員表示，這一研究可以給航天工業(yè)帶來福音，并有可能應用在電池的自修復方面，改善電池的安全性和壽命。相關研究工作發(fā)表在Advanced Materials上。
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