SENPROUV/VIS/NIR光譜橢偏儀低價位光譜橢偏儀,用于在UV/VIS / NIR光譜范圍測量薄膜厚度及其折射率
SenPro橢偏儀是新一代低價位光譜橢偏儀,以快速測量、使用簡易和對樣品操作為特性。
SenPro能夠測量單層薄膜的厚度和折射率。
規(guī)格
光譜范圍 | 250 nm ... 900 nm |
測量時間 | 單點(diǎn)測量時間40 μs, 全光譜測量時間20 ms |
可變?nèi)肷浣嵌?/span> | 45, 50, 55, 60, 65, 70, 90 deg |
載物臺 | 可調(diào)節(jié)高度和傾斜度的載物臺,手動25 mm x-y 方向移動 |
光源 | Xe弧光燈 |
分光計(jì) | 掃描式單色儀 |
軟件 | 光譜橢偏儀軟件,支持測量、建模、擬合橢偏光譜,材料庫,protocol功能,輸出數(shù)據(jù) |
計(jì)算機(jī) | USB 接口連接 PC,包含PC、WindowsXP操作系統(tǒng) |
電源需求 | 115/ 230 V, 50 / 60 Hz |
尺寸 | 850 mm x 400 mm x 300 mm |
重量 | 35 kg |