CMI760測厚儀
CMI760和CMI760N包的表面銅厚措施的申請,服務(wù)質(zhì)量控制的印刷電路板產(chǎn)業(yè)的需求。
CMI760和CMI760N包的表面銅厚措施的申請,服務(wù)質(zhì)量控制的印刷電路板產(chǎn)業(yè)的需求。該軟件包包括一個CPU單元,一個探頭和NIST可追蹤校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。牛津儀器探頭采用專有的SRP- 4微阻技術(shù)特色為標(biāo)準(zhǔn)(CMI760,SRP的-4)或縮?。?/SPAN>CMI760N,SRP的,19-4)品種用戶可更換的測量技巧。