阻抗分析儀IM3570性能特點(diǎn)
阻抗分析儀IM3570特點(diǎn)
1.不同測(cè)量條件下，1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量
測(cè)量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目，1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量儀器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量，1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。
2. 檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比)
和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下，以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中，IM3570發(fā)揮了作用。
3. 測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ，100次測(cè)量時(shí))
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí)，要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位，因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。
4. 廣范圍的測(cè)量頻率
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)�？稍诮咏舱耦l率的測(cè)量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量和評(píng)價(jià)。
5. 15種測(cè)量參數(shù)
可測(cè)量Z、Y等15種參數(shù)，并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。
6. 具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測(cè)量、2端子測(cè)量的接觸檢查功能。防止在測(cè)量電極不接觸被測(cè)物的狀態(tài)下測(cè)量的情況，因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。
7. 廣范圍的測(cè)量電壓/電流
外加一般的開路信號(hào)發(fā)生，可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測(cè)量�？稍O(shè)置廣范圍的、5mV～5V/10μA～50mA(～1MHz)以下的測(cè)量信號(hào)電平。
8. 測(cè)試線可延長至4m
4端子的構(gòu)造可降低測(cè)試線的影響，測(cè)試線長達(dá)4m仍可保證精度。從而便于自動(dòng)設(shè)備的配線。
阻抗分析儀IM3570技術(shù)參數(shù)
| 測(cè)量模式 |
LCR模式：?jiǎn)我粭l件下測(cè)量
分析儀模式：
根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量電平進(jìn)行掃描
(測(cè)量點(diǎn)：1～801，掃描方法：一般掃描/分區(qū)掃描，顯示：列表顯示/圖表顯示)
連續(xù)測(cè)量模式：
連續(xù)測(cè)量保存的條件(最多32個(gè)) |
| 測(cè)量參數(shù) |
Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
| 測(cè)量量程 |
100mΩ～100MΩ，12檔量程(所有參數(shù)都根據(jù)Z來確定) |
| 基本精度 |
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 測(cè)量頻率 |
4Hz～5MHz(10mHz～100Hz步進(jìn)) |
| 測(cè)量信號(hào)電平 |
普通模式：
V模式、CV模式：5mV～5Vrms(1MHz以下)，
10mV～1Vrms(1MHz～5MHz)，1mVrms步進(jìn)
CC模式：10μA～50mArms(1MHz以下)
10μA～10mArms(1MHz～5MHz)，10μArms步進(jìn)
低阻抗高精度模式：
V模式、CV模式：5mV～1Vrms(100kHz以下)，
1mVrms步進(jìn)
CC模式：10μA～100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程)，
10μArms步進(jìn) |
| 輸出阻抗 |
普通模式：100Ω
低阻抗高精度模式：10Ω |
| 顯示 |
彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示開或關(guān) |
| 顯示位數(shù)設(shè)置 |
可設(shè)置3～7位的顯示位數(shù)，初始值為6位 |
| 測(cè)量時(shí)間 |
0.5ms(100kHz、FAST、顯示關(guān)，代表值) |
| 測(cè)量速度 |
FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| DC偏壓測(cè)量 |
普通模式：DC0V～2.50V(10mV步進(jìn))
低阻抗高精度模式：DC0V～1.00V(10mV步進(jìn)) |
| 直流電阻測(cè)量 |
普通模式：測(cè)量信號(hào)電平
DC100mV～2.5V(10mV步進(jìn))
低阻抗高精度模式：測(cè)量信號(hào)電平
DC100mV～1.00V(10mV步進(jìn)) |
| 比較器 |
LCR模式：第1、第3項(xiàng)目的Hi/IN/Lo
分析模式：
區(qū)域判斷(各點(diǎn)的Hi/IN/Lo)、
峰值判斷(極大、極小的頻率和絕對(duì)值的Hi/IN/Lo) |
| 存儲(chǔ)功能 |
主機(jī)可保存32000個(gè)數(shù)據(jù) |
| 接口 |
EXT I/O(hler)
RS-232C
GP-IB
USB(Hi-Speed/Full-Speed)
U盤
LAN(10BASE-T/100BASE-TX) |
| 電源 |
AC90～264V，50/60Hz，最大150VA |
| 體積和質(zhì)量 |
約330W×119H×307Dmm，約5.8kg | | 
適合您:中儀ZY-L100回路電阻測(cè)試儀
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