C測(cè)試儀3504-40性能特點(diǎn)
| 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 |
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- 高速測(cè)量2ms
- 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
- 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能
- 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
- 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
- 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
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輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件
| 測(cè)量參數(shù) |
Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） |
| 測(cè)量范圍 |
C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000 |
| 基本確度 |
（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測(cè)定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數(shù) |
| 測(cè)量頻率 |
120Hz, 1kHz |
| 測(cè)量信號(hào)電平 |
恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60) 500 mV, 1 V
測(cè)量范圍:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) |
| 輸出電阻 |
5Ω（開(kāi)路端子電壓模式,上述測(cè)量范圍以外） |
| 顯示 |
發(fā)光二級(jí)管 （6行表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定） |
| 測(cè)量時(shí)間 |
典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※測(cè)量時(shí)間根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量速度的不同而不同 |
| 機(jī)能 |
4端子控制檢測(cè)功能（僅限3504-60），BIN測(cè)量（除去3504-40），觸發(fā)同時(shí)輸出，儲(chǔ)存測(cè)量條件，比較測(cè)量值的場(chǎng)強(qiáng)，平均值功能，Low-C抑制功能，鳴叫功能，控制用輸出入（EXT.I/O），RS-232C界面（標(biāo)準(zhǔn)裝備），GP-IB接口（3504-40除外） |
| 電源 |
AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 體積及重量 |
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 |
電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，接地適配器×1 |
不能單獨(dú)使用,測(cè)量時(shí)需要選用測(cè)試冶具及探頭:
SMD測(cè)試冶具 9699,底部 SMD電極操作頻率:DC～120MHz測(cè)量對(duì)象尺寸：W:1.0～4.0mm H:1.5mm
SMD測(cè)試冶具 9677,側(cè)面 SMD 電極操作頻率:DC～120MHz 測(cè)量對(duì)象尺寸:3.5±0.5mm
SMD測(cè)試冶具 9263,DC～5 MHz, 直結(jié)型
測(cè)試冶具 9262,DC～5 MHz, 直結(jié)型
測(cè)試冶具 9261,DC～5 MHz, 1 m
針型測(cè)試探頭 9143,DC～5 MHz, 1 m
4端子測(cè)試探頭 9140,DC～100 kHz, 1 m GP-IB連接電纜 9151-02 2m 長(zhǎng)
| 打印機(jī) 9442,電源轉(zhuǎn)換器 9443-02,連接電纜 9444適用于9442, 線長(zhǎng):1.5 m,記錄紙 1196 | |
適合您:日本日置HIOKILCR測(cè)試儀3522-50
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