| YB3117/YB3118 |
測試種類 | 可測試TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可編程器件 |
顯示方式 | 圖形顯示(時序顯示)、狀態(tài)顯示 |
被測芯片腳數(shù) | 100腳以下 |
最大輸出電流 | 每引腳100mA |
測試速度 | 500kHz/Pin |
中文Windows操作平臺 | |
開放式自建芯片的數(shù)據(jù)庫 | |
V-1特性曲線測試 | |
工作溫度 | 0°C~30°C |
工作濕度 | 75% |
功耗 | 約45W(不包括供待測板的功耗) |
工作電壓 | 220V±10% |
YB3117配臺式電腦 | YB3118配筆記本電腦 |
外形尺寸 | 90H×350W×350D(mm) |
質(zhì)量 | 約4.7kg |