SPARQ

SPARQ具有2到12端口的多種型號(hào)。8和12端口的SPARQ可以用于描述多鏈路差分器件的串?dāng)_。比如說(shuō)，12端口的SPARQ能夠同時(shí)測(cè)量多達(dá)3對(duì)差分對(duì)的近端和遠(yuǎn)端串?dāng)_，而且價(jià)格和功能更少的4端口VNA差不多。

對(duì)眼圖和抖動(dòng)以及使用均衡補(bǔ)償通道響應(yīng)感興趣嗎？可以伴隨SPARQ一起配置一套信號(hào)完整性工作室分析軟件SPARQ-SISTUDIO實(shí)現(xiàn)更完整的方案。參考SPARQ-SISTUDIO 以獲得更多關(guān)于S參數(shù)測(cè)量中眼圖和抖動(dòng)分析的信息。

關(guān)鍵特性

最多4端口的S參數(shù)測(cè)量

測(cè)量頻率覆蓋DC-40GHz

內(nèi)部OSLT校準(zhǔn)，一鍵式操作

頻域和時(shí)域分析

生成混合模式或單端模式的S參數(shù)，可用于信號(hào)完整性仿真

具備高級(jí)去嵌功能

內(nèi)置的TDR/TDT功能和預(yù)覽模式，用于快速檢查和調(diào)試

價(jià)格只是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的一小部分

SPARQ是對(duì)多端口元件進(jìn)行測(cè)量的理想儀器，適用于信號(hào)完整性分析，而價(jià)格只是傳統(tǒng)儀器的一小部分。它適合：

構(gòu)建基于測(cè)量的仿真模型

設(shè)計(jì)驗(yàn)證

一致性測(cè)試

高性能的TDR測(cè)試

PCB測(cè)試

多鏈路差分結(jié)構(gòu)的串?dāng)_特征描述

便攜式測(cè)量

高帶寬，多端口，大批量的S參數(shù)測(cè)量

S參數(shù)通常通過(guò)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量（VNA），這是一種昂貴而難用的儀器。SPARQ以更優(yōu)惠的價(jià)格提供更簡(jiǎn)便的S參數(shù)測(cè)量方案，使多數(shù)工程師都有機(jī)會(huì)用到。

基于PC機(jī)，小巧輕便

測(cè)量S參數(shù)的傳統(tǒng)儀器體積龐大難以移動(dòng)。而SPARQ重量不超過(guò)20磅。并且可以通過(guò)USB2.0和任何標(biāo)準(zhǔn)PC機(jī)連接，使得SPARQ計(jì)算能力容易升級(jí)。

快速測(cè)量S參數(shù)

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在測(cè)量之前需要進(jìn)行復(fù)雜而煩人的校準(zhǔn)，這需要復(fù)雜的連接，很可能由于操作失誤而導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果。SPARQ提供自動(dòng)校準(zhǔn)功能，只需要簡(jiǎn)單的設(shè)置就可以完成校準(zhǔn)和測(cè)量。

內(nèi)部校準(zhǔn)

SPARQ采取一種革命性方法來(lái)實(shí)現(xiàn)內(nèi)部自動(dòng)校準(zhǔn)。它不需要額外的電子校準(zhǔn)模塊和多次連接步驟，整個(gè)過(guò)程不需用戶(hù)干預(yù)。校準(zhǔn)的結(jié)果可以保存。但因?yàn)樾?zhǔn)的便捷性，可以經(jīng)常校準(zhǔn)而無(wú)需調(diào)用以前的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，以避免校準(zhǔn)數(shù)據(jù)過(guò)時(shí)而測(cè)量錯(cuò)誤。

包含用戶(hù)期望的各種工具

信號(hào)完整性網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了時(shí)域和頻域的多種測(cè)量和分析功能，而不僅僅是S參數(shù)。通過(guò)使用測(cè)量得到的S參數(shù)來(lái)仿真時(shí)域特性，幫助用戶(hù)深入洞察被測(cè)對(duì)象。

SPARQ提供了面向信號(hào)完整性應(yīng)用的各種工具，包括其他儀器要額外收費(fèi)的功能，比如混合模式S參數(shù)轉(zhuǎn)換，端口重編號(hào)，無(wú)源性、互易性和因果性的設(shè)置，查看阻抗、反射系數(shù)、階躍響應(yīng)和脈沖響應(yīng)等時(shí)域特性。所有時(shí)域特性都可以根據(jù)用戶(hù)指定的上升時(shí)間進(jìn)行歸一化。

SPARQ為每個(gè)端口提供了經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的電纜、2.92mm轉(zhuǎn)接頭，以及一個(gè)通用扳手和一個(gè)扭矩扳手。

流程化的設(shè)置步驟

在主界面上方的SETUP按鈕，提供了SPARQ測(cè)量所有需要的設(shè)置性。你只需要提供頻率范圍、端口數(shù)就可以立即開(kāi)始測(cè)量。還有一些幫助性信息，比如頻率間隔的選擇，DUT電氣長(zhǎng)度的控制等等。各種測(cè)量序列控制模式，允許用戶(hù)在測(cè)量時(shí)間和動(dòng)態(tài)范圍之間權(quán)衡。所有測(cè)量開(kāi)始后無(wú)需用戶(hù)干預(yù)。也可以做一些高級(jí)設(shè)置，比如差分和混合模式測(cè)量。

多種測(cè)量功能

SPARQ目前可以得到TDR或者VNA的各種測(cè)量結(jié)果，并且操作更簡(jiǎn)單。這些測(cè)試測(cè)量包括：

阻抗

回波損耗

阻抗不平衡

插入損耗

串?dāng)_（近端或遠(yuǎn)端）

差模到共模的轉(zhuǎn)換

共模到差模的轉(zhuǎn)換

差分對(duì)之間的偏移

電壓轉(zhuǎn)遞函數(shù)

輸入或輸出端口的差?；蚬材ｋA躍響應(yīng)

模轉(zhuǎn)換階躍響應(yīng)

混合模式或者單端模式S參數(shù)

上升時(shí)間歸一化的時(shí)域測(cè)量結(jié)果

TDR/TDT模式

所有的測(cè)量可以根據(jù)應(yīng)用選擇為差模模式，共模模式，單端