IM7580阻抗分析儀

現(xiàn)在，為了收發(fā)大容量數(shù)據(jù)，高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€也在高速發(fā)展中。為了在保證高速傳輸線的信號(hào)品質(zhì)的同時(shí)控制干擾，使用共模濾波器或鐵氧體磁珠等電子元器件，隨著傳輸線的高速發(fā)展，這類電子元器件也向高頻化發(fā)展。

而且，由于手機(jī)、手提電腦趨向于小型化，需要電源部分也向小巧的方向發(fā)展，出現(xiàn)DC-DC變頻器的開關(guān)頻率的高頻化的解決方案。因此，安裝在電源中的功率電感等電子零部件也向高頻化發(fā)展。

生產(chǎn)這類電子元器件的電子元器件廠家在電子元器件的開發(fā)和出貨檢查中需要進(jìn)行高頻的測(cè)量。在出貨檢查中為了提高產(chǎn)量，需要使用能進(jìn)行高速檢查的測(cè)量?jī)x器。

在這樣的需求的基礎(chǔ)上，我司研發(fā)了可進(jìn)行高頻、高速測(cè)量檢查的阻抗分析儀。 

最高300MHz的高頻測(cè)量
IM7580的測(cè)量頻率為1MHz~300MHz。在以單一頻率測(cè)量的LCR表的模式下，判斷出貨檢查時(shí)的合格與否，改變頻率的同時(shí)在測(cè)量的分析模式下可用于產(chǎn)品開發(fā)的特性評(píng)估等多種領(lǐng)域中。


最快0.5ms的高速測(cè)量或高穩(wěn)定性的測(cè)量，有助于提高生產(chǎn)效率
可進(jìn)行最快0.5ms（0.0005秒）的高速測(cè)量。這樣，對(duì)于希望更快速的檢查大批量電子元器件的電子元器件廠家來(lái)說(shuō)能夠大幅提高生產(chǎn)效率。
而且，測(cè)量的反復(fù)精度提高到以往產(chǎn)品的1/10，讓測(cè)量更加穩(wěn)定，改善了生產(chǎn)產(chǎn)量，提高了生產(chǎn)效率。


主機(jī)體積更小，有助于降低生產(chǎn)成本
在電子元器件廠家的生產(chǎn)線中，將各種儀器整合在機(jī)架上制作成檢查系統(tǒng)，然后進(jìn)行自動(dòng)檢查。因此，主機(jī)體積小的話，則檢查系統(tǒng)也會(huì)小巧，通過(guò)安裝多臺(tái)儀器可以索多檢查時(shí)間，從而降低生產(chǎn)成本。
IM7580的體積是半個(gè)機(jī)架的大?。ㄩL(zhǎng)215mm，高200mm，厚268mm），一個(gè)機(jī)架可以安裝2臺(tái)。


各種各樣的判斷功能判斷合格與否
在單一的頻率測(cè)量的LCR表的模式下，有判斷電子元器件合格與否的比較器功能，選擇電子元器件的BIN功能。比較器功能中設(shè)置上下限值，以此為判斷標(biāo)準(zhǔn)來(lái)判斷是否合格。使用比較器功能是按照一個(gè)判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷是否合格，而BIN功能是最多設(shè)置10個(gè)判斷標(biāo)準(zhǔn)，然后進(jìn)行排名。
使用多個(gè)頻率測(cè)量的分析模式的話，則有可從電子零部件的頻率特性中判斷合格與否的區(qū)域、峰值比較功能。區(qū)域判斷是確認(rèn)測(cè)量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判斷區(qū)域中的功能。峰值判斷是設(shè)置上限值、下限值、左限值、有限制后，判斷共振點(diǎn)的功能。