塞貝克制冷Si(Li)譜儀為專業(yè)X射線譜儀,其獨特的塞貝克效應(yīng)制冷方式使用于液氮制冷方法無法或者禁止使用的領(lǐng)域,全套塞貝克制冷Si(Li)譜儀包括:探頭、塞貝克制冷器、多道分析器、塞貝克冷卻器封的冷卻水用自密封裝置、電腦、MCA仿真軟件。
特征
技術(shù)參數(shù) □ 能量范圍:1~60keV □ 標準探頭有效面積:20~100mm2 □ 8小時連續(xù)工作的時間不穩(wěn)定性:<0.05% □ 輸入計數(shù)率(1/s):1.5×105 □ 積分非線性:<0.05% □ 峰/本底:≥1000 □ 探測器尺寸: Ø90×120mm □ 多道分析器尺寸:350×200×120mm □ 水冷卻裝置尺寸:350×200×120mm □ 探測器重量:2.0kg □ 多道分析器重量:4.0kg □ 水冷卻裝置重量:6.0kg □ 功率:100W □ 工作電壓:220V □ 頻率:50Hz □ 20mm2有效面積探頭的能量分辨率 ■5.9keV:180 ■59.6keV:450