年輪元素分析儀Scanning XRF

年輪元素分析儀Scanning XRF簡介：

    樹木年代學發(fā)展至今，已形成了一套比較完備的基本理論和分析方法。森林生態(tài)、森林火災、歷史時期氣候、大氣污染、考古、火山爆發(fā)、地震、洪水發(fā)生頻率等十幾個方面的研究也發(fā)展起來。為適應不同的研究目的，分析手段多樣化，年輪的寬度測量，密度測量，元素分析等新技術和新方法可以從樹木樣品中提取更多有用的信息，使得相關領域研究內容更加豐富。

    年輪元素分析儀是一款高端的測量分析設備，在世界上首次同時采用了XRF和X-射線成像技術，可用于木材、湖海沉積物、堆積物、泥炭等樣品的濃度和元素分析?？蓽y量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中許多可測至痕量水平以下，對靈敏度和分辨率要求較高的研究尤其適合。

年輪元素分析儀Scanning XRF系統(tǒng)特點：

◎ 結合了X-射線成像與XRF元素分析
◎ 可得高精度的樣品密度圖像和元素曲線
◎ 利用XRF分實現(xiàn)多種元素的分析
◎ 可分析不同類型、形狀、尺寸和厚度的樣品，可以是樹木生長錐取下的樹木樣品，也可是片狀、塊狀樣品或圓形沉積物樣品等，不需要對樣品做前期表面處理，樣品準備簡單
◎ 自動進行多樣品分析
◎ X-射線成像的信息以數字化方式儲存，結果可即時顯示。

年輪元素分析儀Scanning XRF技術指標：
1）測量原理：X-射線熒光分析和數字X-射線成像技術
2）X 射線發(fā)生器：60 kV，55 mA，最大功率3.3 kW
3）顯像管：一個標準的LFF型X光顯像管（Cr）。最大功率工作壽命2000h，功率降低壽命延長。當使用鉻管進行木材密度分析時，樣品厚度范圍為1~10mm，厚度較厚的樣品(最厚50 mm )，通常選擇Mo管，這需要另一種類型的X-射線成像感應器。
4）光學系統(tǒng)：PolyflatTM 專利 技術，PolyflatTM 扁平X光束光學系統(tǒng)，用于局部區(qū)域的快速測量，測量點面積為50微米×20厘米， X-射線圖像的分辨率達10x20微米，寬15~20mm（根據軟件設置），通過軟件組合片段圖片可得到寬度大于20mm的圖像。使用這種光束的XRF，水平方向的分辨率為50微米，垂直方向的分辨率為2mm。
5）X光束調節(jié)器：X光束調節(jié)器可使X-射線圖像在水平方向的分辨率達10微米
6）控制臺：一個300x200mm X/Y可移動電腦控制臺，掃描點長2.5微米，重現(xiàn)性好
7）樣品槽：最多放9個長280mm，寬7~12mm的木條樣品。樣品槽可拿出。其他類型的樣品槽根據需要可訂購。
8）X-射線檢測器：線性排列感應元件，其測量所得圖像的格式為16 bits。包含控制、操作及數據采集所需的硬件和軟件。適于厚度不超過15mm木材類樣品的測量。
9）密度校準塑料楔：用于密度校準，位于樣品固定槽上方。
10）操作臺：780×800×1600mm（長×寬×高），用于放置上面提到的所有原件。測量區(qū)用一塊透明板遮擋，用于防塵，防X-射線泄露。操作臺內置安全控制系統(tǒng)，打開瞬間，X-射線會自動關閉。
11）掃描儀：一個平板掃描儀，用于測量前，條形樣品槽內樣品的掃描。
12）冷卻裝置：冷卻水泵
13）電源：建議配置UPS
14）重量：250kg

系統(tǒng)組成：
X-射線發(fā)生器，標準LFF型X光顯像管，PolyflatTM 扁平X光束光學系統(tǒng)，X光束調節(jié)器，控制臺，樣品槽，X-射線檢測器，密度校準塑料楔，操作臺，平板掃描儀，冷卻裝置，計算機，軟件，用戶手冊