產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
?LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。
?LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
?LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言,以滿足客戶的各種需求。
?LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品,電池壽命長(zhǎng),可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
產(chǎn)品特點(diǎn):
?大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
?校準(zhǔn)選項(xiàng)
?出廠時(shí)已校準(zhǔn),立即可用
?在未知涂層上校準(zhǔn)
?零校準(zhǔn)
?在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)
?在有涂層的基體上校準(zhǔn)
?校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中,也可以隨時(shí)調(diào)出
?可選擇的顯示模式,以最佳形式去完成測(cè)量任務(wù)
?輸入和極限監(jiān)視
?在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理
?可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
?統(tǒng)計(jì)
?可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
?最小值、最大值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
?局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
?在線統(tǒng)計(jì),所有統(tǒng)計(jì)值概括
普通型 鐵基膜層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 2042F 非鐵基膜層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 2042NF 鐵基/非鐵基膜層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 2042 數(shù)據(jù)型 鐵基 2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 2042 EF 2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 2042DF 非鐵基 2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 2042ENF 2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 2042DNF 鐵基/非鐵基 2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 2042 E 2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 2042 D