MI2042D涂層測(cè)厚儀介紹:
MI2042D涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。
MI2042D涂層測(cè)厚儀利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言,以滿足客戶的各種需求。
MI2042D涂層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品,電池壽命長(zhǎng),可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
MI2042D涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)概述:
◆ 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
◆ 校準(zhǔn)選項(xiàng)
◆ 出廠時(shí)已校準(zhǔn),立即可用
◆ 在未知涂層上校準(zhǔn)*
◆ 零校準(zhǔn)*
◆ 在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)*
◆ 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
◆ 校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中,也可以隨時(shí)調(diào)出
◆ 可選擇的顯示模式,以最佳形式去完成測(cè)量任務(wù)*
◆ 輸入和極限監(jiān)視*
◆ 在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*
◆ 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 統(tǒng)計(jì)*
◆ 可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
◆ 最小值、最大值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
◆ 局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
◆ 在線統(tǒng)計(jì),所有統(tǒng)計(jì)值概括
◆ 數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB
◆ 電源:電池、充電電池、USB或外接電源
◆ 測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
◆ 測(cè)量速度: 每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值
◆ 存儲(chǔ): 最多 9999 個(gè)數(shù)值,140個(gè)文件
◆ 誤差:
◆ 涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準(zhǔn)后)
◆ 涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄
◆ 涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄
◆ 涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄
MI2042D涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
普通型 |
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鐵基膜層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 |
2042F |
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非鐵基膜層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 |
2042NF |
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鐵基/非鐵基膜層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 |
2042 |
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數(shù)據(jù)型 |
鐵基 |
2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 |
2042 EF |
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2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 |
2042DF |
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非鐵基 |
2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 |
2042ENF |
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2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 |
2042DNF |
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鐵基/非鐵基 |
2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 |
2042 E |
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2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測(cè)厚儀,統(tǒng)計(jì)和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊(cè),質(zhì)量認(rèn)證書(shū),儀器箱 |
2042 D |
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附件:
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對(duì)整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的杜說(shuō)或全部文件傳輸?shù)絎indows 程序里